TY  - RPRT
TI  - Surface versus bulk characterization of the electronic inhomogeneity in a VO_{2} film
AU  - Y. J. Chang
AU  - J. S. Yang
AU  - Y. S. Kim
AU  - D. H. Kim
AU  - T. W. Noh
AU  - D. -W. Kim
AU  - E. OH
AU  - B. Kahng
AU  - J. -S. Chung
PY  - 2007
DO  - 10.1103/physrevb.76.075118
UR  - https://arxiv.org/abs/0707.4516
ID  - 0707.4516
ER  -