TY  - RPRT
TI  - Detection of low energy single ion impacts in micron scale transistors at room temperature
AU  - A. Batra
AU  - C. D. Weis
AU  - J. Reijonen
AU  - A. Persaud
AU  - S. Cabrini
AU  - C. C. Lo
AU  - J. Bokor
AU  - T. Schenkel
PY  - 2007
DO  - 10.1063/1.2805634
UR  - https://arxiv.org/abs/0709.4056
ID  - 0709.4056
ER  -