TY  - RPRT
TI  - Critical Oxide Thickness for Efficient Single-walled Carbon Nanotube Growth on Silicon Using Thin SiO2 Diffusion Barriers
AU  - J. M. Simmons
AU  - B. M. Nichols
AU  - Matthew S. Marcus
AU  - O. M. Castellini
AU  - R. J. Hamers
AU  - M. A. Eriksson
PY  - 2007
UR  - https://arxiv.org/abs/0710.1769
ID  - 0710.1769
ER  -