TY  - RPRT
TI  - Specification Test Compaction for Analog Circuits and MEMS
AU  - Sounil Biswas
AU  - Peng Li
AU  - R. D.
AU  - Blanton
AU  - Larry T. Pileggi
PY  - 2007
UR  - https://arxiv.org/abs/0710.4719
ID  - 0710.4719
ER  -