TY  - RPRT
TI  - Abnormal Resistance Switching Behaviors of NiO Thin Films: Possible Occurrence of Simultaneous Formation and Rupture of Conducting Channels
AU  - Chunli Liu
AU  - S. C. Chae
AU  - S. H. Chang
AU  - S. B. Lee
AU  - T. W. Noh
AU  - J. S. Lee
AU  - B. Kahng
AU  - D. -W. Kim
AU  - C. U. Jung
AU  - S. Seo
AU  - Seung-Eon Ahn
PY  - 2008
DO  - 10.1088/0022-3727/42/1/015506
UR  - https://arxiv.org/abs/0801.3323
ID  - 0801.3323
ER  -