TY  - RPRT
TI  - Nanometer-scale sharpness in corner-overgrown heterostructures
AU  - L. Steinke
AU  - P. Cantwell
AU  - D. Zakharov
AU  - E. Stach
AU  - N. J. Zaluzec
AU  - A. Fontcuberta i Morral
AU  - M. Bichler
AU  - G. Abstreiter
AU  - M. Grayson
PY  - 2008
DO  - 10.1063/1.2988526
UR  - https://arxiv.org/abs/0803.3986
ID  - 0803.3986
ER  -