TY  - RPRT
TI  - Percolation Model Explaining Both Unipolar Memory and Threshold Resistance Switchings in NiO Film
AU  - S. H. Chang
AU  - J. S. Lee
AU  - S. C. Chae
AU  - S. B. Lee
AU  - C. Liu
AU  - B. Kahng
AU  - D. -W. Kim
AU  - T. W. Noh
PY  - 2008
DO  - 10.1103/physrevlett.102.026801
UR  - https://arxiv.org/abs/0803.4258
ID  - 0803.4258
ER  -