TY  - RPRT
TI  - Hall effect measurements on YbRh2Si2 and relatives in the light of electronic structure calculations
AU  - S. Friedemann
AU  - N. Oeschler
AU  - S. Wirth
AU  - C. Krellner
AU  - C. Geibel
AU  - F. Steglich
AU  - S. MaQuilon
AU  - Z. Fisk
AU  - S. Paschen
AU  - G. Zwicknagl
PY  - 2010
DO  - 10.1103/physrevb.82.035103
UR  - https://arxiv.org/abs/0803.4428
ID  - 0803.4428
ER  -