TY  - RPRT
TI  - Comparison of strong coupling regimes in bulk GaAs, GaN and ZnO semiconductor microcavities
AU  - Stéphane Faure
AU  - T. Guillet
AU  - P. Lefebvre
AU  - T. Bretagnon
AU  - B. Gil
PY  - 2008
DO  - 10.1103/physrevb.78.235323
UR  - https://arxiv.org/abs/0810.1811
ID  - 0810.1811
ER  -