TY  - RPRT
TI  - Quantum resistance metrology in graphene
AU  - A. J. M. Giesbers
AU  - G. Rietveld
AU  - E. Houtzager
AU  - U. Zeitler
AU  - R. Yang
AU  - K. S. Novoselov
AU  - A. K. Geim
AU  - J. C. Maan
PY  - 2008
DO  - 10.1063/1.3043426
UR  - https://arxiv.org/abs/0810.4064
ID  - 0810.4064
ER  -