TY  - RPRT
TI  - Polarization dependent interface properties of ferroelectric Schottky barriers studied by soft X-ray absorption spectroscopy
AU  - H. Kohlstedt
AU  - A. Petraru
AU  - M. Meier J. Denlinger
AU  - J. Guo
AU  - Y. Wanli
AU  - A. Scholl
AU  - B. Freelon
AU  - T. Schneller
AU  - R. Waser
AU  - P. Yu
AU  - R. Ramesh
AU  - T. Learmonth
AU  - P. -A. Glans
AU  - K. E. Smith
PY  - 2008
UR  - https://arxiv.org/abs/0810.4272
ID  - 0810.4272
ER  -