TY  - RPRT
TI  - Measurement of the trapping lifetime close to a cold metallic surface on a cryogenic atom-chip
AU  - Andreas Emmert
AU  - Adrian Lupascu
AU  - Gilles Nogues
AU  - Michel Brune
AU  - Jean-Michel Raimond
AU  - Serge Haroche
PY  - 2009
DO  - 10.1140/epjd/e2009-00001-5
UR  - https://arxiv.org/abs/0901.4331
ID  - 0901.4331
ER  -