TY  - RPRT
TI  - Reverse depth profiling of electrodeposited Co/Cu multilayers by SNMS
AU  - A. Csik
AU  - K. Vad
AU  - G. A. Langer
AU  - G. L. Katona
AU  - E. Toth-Kadar
AU  - L. Peter
PY  - 2009
UR  - https://arxiv.org/abs/0902.1672
ID  - 0902.1672
ER  -