TY  - RPRT
TI  - Cryogenic instrumentation for fast current measurement in a silicon single electron transistor
AU  - T. Ferrus
AU  - D. G. Hasko
AU  - Q. R. Morrissey
AU  - S. R. Burge
AU  - E. J. Freeman
AU  - M. J. French
AU  - A. Lam
AU  - L. Creswell
AU  - R. J. Collier
AU  - D. A. Williams
AU  - G. A. D. Briggs
PY  - 2010
DO  - 10.1063/1.3191671
UR  - https://arxiv.org/abs/0904.3193
ID  - 0904.3193
ER  -