TY  - RPRT
TI  - Electronic transport calculations for rough interfaces in Al, Cu, Ag, and Au
AU  - M. M. Fadlallah
AU  - C. Schuster
AU  - U. Schwingenschloegl
AU  - T. Wunderlich
AU  - S. Sanvito
PY  - 2009
DO  - 10.1088/0953-8984/21/31/315001
UR  - https://arxiv.org/abs/0905.0784
ID  - 0905.0784
ER  -