TY  - RPRT
TI  - Tunneling electroresistance effect in ferroelectric tunnel junctions at the nanoscale
AU  - A. Gruverman
AU  - D. Wu
AU  - H. Lu
AU  - Y. Wang
AU  - H. W. Jang
AU  - C. M. Folkman
AU  - M. Ye. Zhuravlev
AU  - D. Felker
AU  - M. Rzchowski
AU  - C. -B. Eom
AU  - E. Y. Tsymbal
PY  - 2009
DO  - 10.1021/nl901754t
UR  - https://arxiv.org/abs/0906.1521
ID  - 0906.1521
ER  -