TY  - RPRT
TI  - Electric field effects, Mott insulator, Surface patterning, Scanning tunneling microscopy, Transition metal chalcogenides
AU  - Vincent Dubost
AU  - T. Cren
AU  - C. Vaju
AU  - Laurent Cario
AU  - B. Corraze
AU  - E. Janod
AU  - François Debontridder
AU  - D. Roditchev
PY  - 2009
UR  - https://arxiv.org/abs/0906.5473
ID  - 0906.5473
ER  -