TY  - RPRT
TI  - Identification of vacancy defects in a thin film perovskite oxide
AU  - D. J. Keeble
AU  - R. A. Mackie
AU  - W. Egger
AU  - B. Lowe
AU  - P. Pikart
AU  - C. Hugenschmidt
AU  - T. J. Jackson
PY  - 2009
DO  - 10.1103/physrevb.81.064102
UR  - https://arxiv.org/abs/0906.5558
ID  - 0906.5558
ER  -