TY  - RPRT
TI  - Analysis of strain and stacking faults in single nanowires using Bragg coherent diffraction imaging
AU  - V. Favre-Nicolin
AU  - F. Mastropietro
AU  - J. Eymery
AU  - D. Camacho
AU  - Y. M. Niquet
AU  - B. M. Borg
AU  - M. E. Messing
AU  - L. -E. Wernersson
AU  - R. E. Algra
AU  - E. P. A. M. Bakkers
AU  - T. H. Metzger
AU  - R Harder
AU  - I. K. Robinson
PY  - 2010
DO  - 10.1088/1367-2630/12/3/035013
UR  - https://arxiv.org/abs/0910.5491
ID  - 0910.5491
ER  -