TY  - RPRT
TI  - Growth dynamics and thickness-dependent electronic structure of topological insulator Bi2Te3 thin films on Si
AU  - Yao-Yi Li
AU  - Guang Wang
AU  - Xie-Gang Zhu
AU  - Min-Hao Liu
AU  - Cun Ye
AU  - Xi Chen
AU  - Ya-Yu Wang
AU  - Ke He
AU  - Li-Li Wang
AU  - Xu-Cun Ma
AU  - Hai-Jun Zhang
AU  - Xi Dai
AU  - Zhong Fang
AU  - Xin-Cheng Xie
AU  - Ying Liu
AU  - Xiao-Liang Qi
AU  - Jin-Feng Jia
AU  - Shou-Cheng Zhang
AU  - Qi-Kun Xue
PY  - 2009
UR  - https://arxiv.org/abs/0912.5054
ID  - 0912.5054
ER  -