TY  - RPRT
TI  - Different Evolution of Intrinsic Gap in Kondo Semiconductors SmB6 and YbB12
AU  - J. Yamaguchi
AU  - A. Sekiyama
AU  - M. Y. Kimura
AU  - H. Sugiyama
AU  - Y. Tomida
AU  - G. Funabashi
AU  - S. Komori
AU  - T. Balashov
AU  - W. Wulfhekel
AU  - T. Ito
AU  - S. Kimura
AU  - A. Higashiya
AU  - K. Tamasaku
AU  - M. Yabashi
AU  - T. Ishikawa
AU  - S. Yeo
AU  - S. -I. Lee
AU  - F. Iga
AU  - T. Takabatake
AU  - S. Suga
PY  - 2010
UR  - https://arxiv.org/abs/1002.2530
ID  - 1002.2530
ER  -