TY  - RPRT
TI  - Micron-scale Fast Electron Filamentation and Recirculation determined from Rear Side Optical Emission in High Intensity Laser-Solid Interactions
AU  - C. Bellei
AU  - S. R. Nagel
AU  - S. Kar
AU  - A. Henig
AU  - S. Kneip
AU  - C. Palmer
AU  - A. Sävert
AU  - L. Willingale
AU  - D. Carroll
AU  - B. Dromey
AU  - J. S. Green
AU  - K. Markey
AU  - P. Simpson
AU  - R. J. Clarke
AU  - H. Lowe
AU  - D. Neely
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AU  - M. Zepf
AU  - J. R. Davies
AU  - K. Krushelnick
AU  - Z. Najmudin
PY  - 2010
DO  - 10.1088/1367-2630/12/7/073016
UR  - https://arxiv.org/abs/1002.4808
ID  - 1002.4808
ER  -