TY  - RPRT
TI  - Penetration depth of electron-doped-infinite-layer Sr$_{0.88}$La$_{0.12}$CuO$_{2+x}$ thin films
AU  - L. Fruchter
AU  - V. Jovanovic
AU  - H. Raffy
AU  - Sid Labdi
AU  - F. Bouquet
AU  - Z. Z. Li
PY  - 2010
DO  - 10.1103/physrevb.82.144529
UR  - https://arxiv.org/abs/1003.5559
ID  - 1003.5559
ER  -