TY  - RPRT
TI  - Semi-Empirical Model for Nano-Scale Device Simulations
AU  - Kurt Stokbro
AU  - Dan Erik Petersen
AU  - Søren Smidstrup
AU  - Anders Blom
AU  - Mads Ipsen
AU  - Kristen Kaasbjerg
PY  - 2010
DO  - 10.1103/physrevb.82.075420
UR  - https://arxiv.org/abs/1004.2812
ID  - 1004.2812
ER  -