TY  - RPRT
TI  - Critical current diffraction pattern of SIFS Josephson junctions with step-like F-layer
AU  - M. Weides
AU  - U. Peralagu
AU  - H. Kohlstedt
AU  - J. Pfeiffer
AU  - M. Kemmler
AU  - C. Gürlich
AU  - E. Goldobin
AU  - D. Koelle
AU  - R. Kleiner
PY  - 2010
DO  - 10.1088/0953-2048/23/9/095007
UR  - https://arxiv.org/abs/1006.5109
ID  - 1006.5109
ER  -