TY  - RPRT
TI  - High-fidelity conformation of graphene to SiO2 topographic features
AU  - William G. Cullen
AU  - Mahito Yamamoto
AU  - Kristen M. Burson
AU  - Jianhao Chen
AU  - Chaun Jang
AU  - Liang Li
AU  - Michael S. Fuhrer
AU  - Ellen D. Williams
PY  - 2010
DO  - 10.1103/physrevlett.105.215504
UR  - https://arxiv.org/abs/1007.4802
ID  - 1007.4802
ER  -