TY  - RPRT
TI  - Scanning-gate microscopy of semiconductor nanostructures: an overview
AU  - F. Martins
AU  - B. Hackens
AU  - H. Sellier
AU  - P. Liu
AU  - M. G. Pala
AU  - S. Baltazar
AU  - L. Desplanque
AU  - X. Wallart
AU  - V. Bayot
AU  - S. Huant
PY  - 2010
UR  - https://arxiv.org/abs/1010.3924
ID  - 1010.3924
ER  -