TY  - RPRT
TI  - Intrinsic Reliability improvement in Biaxially Strained SiGe p-MOSFETs
AU  - Shweta Deora
AU  - Abhijeet Paul
AU  - R. Bijesh
AU  - Jeff Huang
AU  - Gerhard Klimeck
AU  - Gennadi Bersuker
AU  - P. D. Krisch
AU  - Raj Jammy
PY  - 2010
DO  - 10.1109/led.2010.2099101
UR  - https://arxiv.org/abs/1012.1579
ID  - 1012.1579
ER  -