TY  - RPRT
TI  - Temperature dependencies of the energy and time resolution of silicon drift detectors
AU  - B. K. Wuenschek
AU  - Y. Fujiwara
AU  - T. Hashimoto
AU  - R. S. Hayano
AU  - M. Iio
AU  - S. Ishimoto
AU  - T. Ishiwatari
AU  - M. Sato
AU  - E. Widmann
AU  - J. Zmeskal
PY  - 2011
UR  - https://arxiv.org/abs/1103.2254
ID  - 1103.2254
ER  -