TY  - RPRT
TI  - Characterization of silicon thin overlayers on rutile \ce{TiO2} (110)-(1x1)
AU  - J. Abad
AU  - C. Gonzalez
AU  - P. L. de Andres
AU  - E. Roman
PY  - 2011
DO  - 10.1103/physrevb.82.165420
UR  - https://arxiv.org/abs/1106.0388
ID  - 1106.0388
ER  -