TY  - RPRT
TI  - Probing the Sensitivity of Electron Wave Interference to Disorder-Induced Scattering in Solid-State Devices
AU  - B. C. Scannell
AU  - I. Pilgrim
AU  - A. M. See
AU  - R. D. Montgomery
AU  - P. K. Morse
AU  - M. S. Fairbanks
AU  - C. A. Marlow
AU  - H. Linke
AU  - I. Farrer
AU  - D. A. Ritchie
AU  - A. R. Hamilton
AU  - A. P. Micolich
AU  - L. Eaves
AU  - R. P. Taylor
PY  - 2012
UR  - https://arxiv.org/abs/1106.5823
ID  - 1106.5823
ER  -