TY  - RPRT
TI  - Reduction of charge fluctuation energies in ultrathin NiO films on Ag(001)
AU  - Seolun Yang
AU  - H. -K. Park
AU  - J. -S. Kim
AU  - H. -N. Hwang
AU  - C. -C. Hwang
AU  - S. -H. Phark
AU  - Y. J. Chang
AU  - T. W. Noh
AU  - H. -D. Kim
PY  - 2011
UR  - https://arxiv.org/abs/1107.0135
ID  - 1107.0135
ER  -