TY  - RPRT
TI  - Thick-film technology for ultra high vacuum interfaces of micro-structured traps
AU  - Delia Kaufmann
AU  - Thomas Collath
AU  - M. Tanveer Baig
AU  - Peter Kaufmann
AU  - Eman Asenwar
AU  - Michael Johanning
AU  - Christof Wunderlich
PY  - 2012
DO  - 10.1007/s00340-012-4951-7
UR  - https://arxiv.org/abs/1107.4082
ID  - 1107.4082
ER  -