TY  - RPRT
TI  - Schottky barrier lowering with the formation of crystalline Er silicide on n-Si upon thermal annealing
AU  - Nicolas Reckinger
AU  - Xiaohui Tang Vincent Bayot
AU  - Dmitri A. Yarekha
AU  - Emmanuel Dubois
AU  - Sylvie Godey
AU  - Xavier Wallart
AU  - Guilhem Larrieu
AU  - Adam Laszcz
AU  - Jacek Ratajczak
AU  - Pascal J. Jacques
AU  - Jean-Pierre Raskin
PY  - 2011
DO  - 10.1063/1.3136849
UR  - https://arxiv.org/abs/1110.5506
ID  - 1110.5506
ER  -