TY  - RPRT
TI  - Electrical Characterization of SiPM as a Function of Test Frequency and Temperature
AU  - M. J. Boschini
AU  - C. Consolandi
AU  - P. G. Fallica
AU  - M. Gervasi
AU  - D. Grandi
AU  - M. Mazzillo
AU  - S. Pensotti
AU  - P. G. Rancoita
AU  - D. Sanfilippo
AU  - M. Tacconi
AU  - G. Valvo
PY  - 2012
DO  - 10.1142/9789814405072_0099
UR  - https://arxiv.org/abs/1112.0107
ID  - 1112.0107
ER  -