TY  - RPRT
TI  - Analysis of impedance and noise data of an X-ray transition-edge sensor using complex thermal models
AU  - M. R. J. Palosaari
AU  - K. M. Kinnunen
AU  - M. L. Ridder
AU  - J. van der Kuur
AU  - H. F. C. Hoevers
AU  - I. J. Maasilta
PY  - 2011
DO  - 10.1007/s10909-012-0471-4
UR  - https://arxiv.org/abs/1112.0400
ID  - 1112.0400
ER  -