TY  - RPRT
TI  - Exchange bias of mu-metal thin films
AU  - H. F. Kirby
AU  - T. M. Eggers
AU  - P. B. Jayathilaka
AU  - S. M. Campbell
AU  - Casey W. Miller
PY  - 2011
DO  - 10.1016/j.jmmm.2012.07.022
UR  - https://arxiv.org/abs/1112.1604
ID  - 1112.1604
ER  -