TY  - RPRT
TI  - Graphene at high bias: cracking, layer by layer sublimation and fusing
AU  - Amelia Barreiro
AU  - Felix Boerrnert
AU  - Mark H. Ruemmeli
AU  - Bernd Buechner
AU  - Lieven M. K. Vandersypen
PY  - 2012
DO  - 10.1021/nl204236u
UR  - https://arxiv.org/abs/1203.3219
ID  - 1203.3219
ER  -