TY  - RPRT
TI  - Low Frequency Dielectric Loss of Metal/Insulator/Organic Semiconductor Junctions in Ambient Conditions
AU  - R. Ledru
AU  - S. Pleutin
AU  - B. Grouiez
AU  - D. Zander
AU  - H. Bejbouji
AU  - K. Lmimouni
AU  - D. Vuillaume
PY  - 2012
DO  - 10.1016/j.orgel.2012.04.035
UR  - https://arxiv.org/abs/1204.6406
ID  - 1204.6406
ER  -