TY  - RPRT
TI  - Optimization of sample-chip design for stub-matched radio-frequency reflectometry measurements
AU  - S. Hellmüller
AU  - M. Pikulski
AU  - T. Müller
AU  - B. Küng
AU  - G. Puebla-Hellmann
AU  - A. Wallraff
AU  - M. Beck
AU  - K. Ensslin
AU  - T. Ihn
PY  - 2012
DO  - 10.1063/1.4739248
UR  - https://arxiv.org/abs/1206.1785
ID  - 1206.1785
ER  -