TY  - RPRT
TI  - Test of Jarzynski and Crooks fluctuation relations in an electronic system
AU  - O. -P. Saira
AU  - Y. Yoon
AU  - T. Tanttu
AU  - M. Möttönen
AU  - D. V. Averin
AU  - J. P. Pekola
PY  - 2012
DO  - 10.1103/physrevlett.109.180601
UR  - https://arxiv.org/abs/1206.7049
ID  - 1206.7049
ER  -