TY  - RPRT
TI  - Robust formation of skyrmions and topological Hall effect in epitaxial thin films of MnSi
AU  - Yufan Li
AU  - N. Kanazawa
AU  - X. Z. Yu
AU  - A. Tsukazaki
AU  - M. Kawasaki
AU  - M. Ichikawa
AU  - X. F. Jin
AU  - F. Kagawa
AU  - Y. Tokura
PY  - 2012
DO  - 10.1103/physrevlett.110.117202
UR  - https://arxiv.org/abs/1209.4480
ID  - 1209.4480
ER  -