TY  - RPRT
TI  - Effect of back-gate on contact resistance and on channel conductance in graphene-based field-effect transistors
AU  - A. Di Bartolomeo
AU  - S. Santandrea
AU  - F. Giubileo
AU  - F. Romeo
AU  - M. Petrosino
AU  - R. Citro
AU  - P. Barbara
AU  - G. Lupina
AU  - T. Schroeder
AU  - A. Rubino
PY  - 2012
DO  - 10.1016/j.diamond.2013.06.002
UR  - https://arxiv.org/abs/1210.2531
ID  - 1210.2531
ER  -