TY  - RPRT
TI  - Reliable transport through a microfabricated X-junction surface-electrode ion trap
AU  - Kenneth Wright
AU  - Jason M. Amini
AU  - Daniel L. Faircloth
AU  - Curtis Volin
AU  - S. Charles Doret
AU  - Harley Hayden
AU  - C. -S. Pai
AU  - David W. Landgren
AU  - Douglas Denison
AU  - Tyler Killian
AU  - Richart E. Slusher
AU  - Alexa W. Harter
PY  - 2013
DO  - 10.1088/1367-2630/15/3/033004
UR  - https://arxiv.org/abs/1210.3655
ID  - 1210.3655
ER  -