TY  - RPRT
TI  - Electrical Breakdown in a V2O3 device at the Insulator to Metal Transition
AU  - S. Guénon
AU  - S. Scharinger
AU  - Siming Wang
AU  - J. G Ramírez
AU  - D. Koelle
AU  - R. Kleiner
AU  - Ivan K. Schuller
PY  - 2012
DO  - 10.1209/0295-5075/101/57003
UR  - https://arxiv.org/abs/1210.6648
ID  - 1210.6648
ER  -