TY  - RPRT
TI  - Characterization of InSb quantum wells with atomic layer deposited gate dielectrics
AU  - M. M. Uddin
AU  - H. W. Liu
AU  - K. F. Yang
AU  - K. Nagase
AU  - T. D. Mishima
AU  - M. B. Santos
AU  - Y. Hirayama
PY  - 2012
DO  - 10.1063/1.4769225
UR  - https://arxiv.org/abs/1212.1242
ID  - 1212.1242
ER  -