TY  - RPRT
TI  - Analysis of periodic Mo/Si multilayers: influence of the Mo thickness
AU  - H. Maury
AU  - Jean-Michel André
AU  - Karine Le Guen
AU  - N. Mahne
AU  - Angela Giglia
AU  - S. Nannarone
AU  - Françoise Bridou
AU  - Franck Delmotte
AU  - Philippe Jonnard
PY  - 2012
DO  - 10.1016/j.susc.2008.12.002
UR  - https://arxiv.org/abs/1212.1258
ID  - 1212.1258
ER  -