TY  - RPRT
TI  - Interface Electronic Structure in a Metal/Ferroelectric Heterostructure under Applied Bias
AU  - J. E. Rault
AU  - G. Agnus
AU  - T. Maroutian
AU  - V. Pillard
AU  - Ph. Lecoeur
AU  - G. Niu
AU  - B. Vilquin
AU  - M. G. Silly
AU  - A. Bendounan
AU  - F. Sirotti
AU  - N. Barrett
PY  - 2013
DO  - 10.1103/physrevb.87.155146
UR  - https://arxiv.org/abs/1302.4603
ID  - 1302.4603
ER  -