TY  - RPRT
TI  - Statistical Study of Deep Sub-Micron Dual-Gated Field-Effect Transistors on Monolayer CVD Molybdenum Disulfide Films
AU  - Han Liu
AU  - Mengwei Si
AU  - Sina Najmaei
AU  - Adam T. Neal
AU  - Yuchen Du
AU  - Pulickel M. Ajayan
AU  - Jun Lou
AU  - Peide D. Ye
PY  - 2013
DO  - 10.1021/nl400778q
UR  - https://arxiv.org/abs/1303.0776
ID  - 1303.0776
ER  -