TY  - RPRT
TI  - Resistive switching induced by electronic avalanche breakdown in GaTa$_4$Se$_{8-x}$Te$_x$ narrow gap Mott Insulators
AU  - Vincent Guiot
AU  - Laurent Cario
AU  - Etienne Janod
AU  - Benoit Corraze
AU  - Vinh Ta Phuoc
AU  - Marcelo Rozenberg
AU  - Pablo Stoliar
AU  - Tristan Cren
AU  - Dimitri Roditchev
PY  - 2013
DO  - 10.1038/ncomms2735
UR  - https://arxiv.org/abs/1304.4749
ID  - 1304.4749
ER  -